ブルカーは20年にわたって、FT-NIR近赤外分光法に関する優れたパートナーであり続けています。その実績と技術力で、要求事項の厳しいプロセス分析の実現をサポートします。
長年にわたる知識と経験が、FT-NIRプロセス分光計MATRIX-F IIに活かされています。堅牢な設計で恒久的なアライメントが保証された分光計に、最大6つのプローブを接続することができます。
プロセス経験豊富なブルカーの専門家チームが、お客様の分析タスクに最適な測定アクセサリ、設置場所、通信プロトコルについて助言します。
特別に開発されたプロセス分光計、プローブのカスタマイズ、非接触測定用センサーヘッドQ412など、様々な技術ソリューションを提供するために、ブルカーはプロセスプローブやフローセルの供給メーカとも強い協力関係にあります。
技術的な側面に加えて、プロセス監視における最適な性能と安定性を保証するために、ブルカーはプロセス通信ソフトウェアCMETを開発しました。CMETによって、ブルカーの優れたFT-NIRプロセス分光計とお客様のDCS(分散制御システム)が接続されます。DCSから与えられたコマンドはCMETに転送され、CMETは特定の測定を開始し、データの可視化およびアーカイブのためにDCSにデータを送信します。
光ファイバープローブと非接触測定用ヘッドQ412を備えたMATRIX-F II FT-NIR分光計
一般的な拡散反射測定プローブ、透過反射測定プローブ、様々な光路長の透過測定プローブに加え、プロセスフローセルやパイロットプラントアセンブリから選定いただけます。プローブ材質は、ステンレス鋼やハステロイC22またはセラミックなど、様々なタイプをご用意しています。
さらに、プローブの長さやフランジ形状、シール材など、様々なカスタマイズが可能です。
ブルカーは、プロセスの条件に最適なプローブの選定をサポートします。また、以下のような証明書や適合宣言書を提供することができます。
ブルカーが開発したNIR非接触測定用センサーヘッドは、移動している固体試料を非接触拡散反射モードで測定できます。従来の拡散反射プローブと比較して、このセンサーヘッドにはいくつかの特長的な利点があります。
これまでに紹介したソリューションは、プロセス環境に合わせて設置することができます。プローブだけでなく、センサーヘッドやフローセルも、反応槽や配管に直接インラインで取り付けることが可能です。さらに、既存のバイパスへのオンライン設置も可能です。どちらの設置方法も、様々なフランジを適応させることで実現できます。
分光計MATRIX-F II、センサーヘッドおよびプローブは、危険区域または防爆エリアに対応したバージョンがあります。該当するプロジェクトの実現に向けて、知識と経験をもとにサポートします。ATEX、IECEx、およびNEC 505/506などの国際規格に対応した技術ソリューションを提供することが可能です。
プロセスでの設置例(クリックして拡大)
危険区域および防爆エリア向けFT-NIR分光計 MATRIX-F II-EX
